જિઆંગસુ દ્વારા સિલિકોન પ્રેશર-સેન્સિટિવ એડહેસિવ્સ માટે ક્યોરિંગ ડિગ્રી પરીક્ષણ પદ્ધતિઓનું તુલનાત્મક વિશ્લેષણ PTFE ઉચ્ચ-તાપમાન ફેબ્રિક ઉત્પાદકો
(દ્રાવક નિષ્કર્ષણ પદ્ધતિ, DSC પદ્ધતિ અને FTIR પદ્ધતિ)
I. માપનના સિદ્ધાંતો અને આવશ્યક તફાવતો
1. દ્રાવક નિષ્કર્ષણ પદ્ધતિ
આ પદ્ધતિ જેલની સામગ્રીને માપે છે. સારા દ્રાવક સાથે નમૂનાઓ વારંવાર કાઢવામાં આવે છે; અસંબંધિત અણુઓ ઓગળી જાય છે. સૂકા અવશેષોનું વજન અદ્રાવ્ય પદાર્થોના સામૂહિક અપૂર્ણાંકની ગણતરી કરવા માટે કરવામાં આવે છે, જે મેક્રો અદ્રાવ્ય નેટવર્ક માળખાના પ્રમાણને પ્રતિબિંબિત કરે છે.
2. DSC પદ્ધતિ
આ પદ્ધતિ શેષ પ્રતિક્રિયા ગરમી માપે છે. અશુદ્ધ નમૂનાઓ (ΔHtotal) ની કુલ ગરમી પ્રકાશન અને પરીક્ષણ નમૂનાઓ (ΔHresidual) ના શેષ ગરમી પ્રકાશન અનુક્રમે માપવામાં આવે છે. ક્યોરિંગ ડિગ્રી: α=1−ΔHresidual/ΔHtotal તે અવશેષ પ્રતિક્રિયાશીલ કાર્યાત્મક જૂથોના પ્રમાણને દર્શાવે છે.
3. FTIR સ્પેક્ટ્રોસ્કોપી પદ્ધતિ
આ પદ્ધતિ લાક્ષણિક કાર્યાત્મક જૂથોના વપરાશ પર નજર રાખે છે. હાઇડ્રોસિલિલેશન સિસ્ટમ્સ માટે, Si-H (≈2160 cm⁻⊃1;) અથવા Si-Vi (≈1595 cm⁻⊃1;) ના પીક એરિયા ભિન્નતાને ટ્રેક કરવામાં આવે છે. એક આંતરિક પ્રમાણભૂત શિખર (દા.ત., ≈1260 cm⁻⊃1; પર Si-CH₃) નોર્મલાઇઝેશન માટે અપનાવવામાં આવે છે, જે ચોક્કસ રાસાયણિક બોન્ડના રૂપાંતરણ દરને સીધો ઉપજ આપે છે.
II. ચોકસાઈ સરખામણી અને મુખ્ય ભૂલો
1. દ્રાવક નિષ્કર્ષણ પદ્ધતિ
ભૌતિક ગૂંચવણો અને ટોપોલોજિકલ લોકીંગ દ્વારા ફસાયેલા અપ્રક્રિયા વિનાના સાંકળના ભાગોને ભૂલથી 'ક્રોસલિંક્ડ સ્ટ્રક્ચર' તરીકે ઓળખવામાં આવે છે, જે રાસાયણિક ઉપચારની ડિગ્રીના વ્યવસ્થિત અતિશય અંદાજ તરફ દોરી જાય છે. આ ઉપરાંત, પરીક્ષણ પરિણામો વિસર્જન કાર્યક્ષમતા, માઇક્રોજેલની ખોટ અને ઓપરેટિંગ પરિસ્થિતિઓની વધઘટથી પ્રભાવિત થાય છે, માત્ર ±2-5% ની ચોકસાઇ સાથે.
2. DSC પદ્ધતિ
તે નીચા-થી-મધ્યમ રૂપાંતરણ દરે પ્રમાણમાં ઉચ્ચ ચોકસાઈ પહોંચાડે છે. જો કે, ઉચ્ચ ક્યોરિંગ ડિગ્રી પર, અવશેષ કાર્યાત્મક જૂથો પ્રસરણ મર્યાદાને કારણે સંપૂર્ણ રીતે પ્રતિક્રિયા આપી શકતા નથી, પરિણામે ઓછી માપવામાં આવેલી ગરમીનું પ્રકાશન અને ક્યોરિંગ ડિગ્રીના નોંધપાત્ર અતિશય અંદાજમાં પરિણમે છે. વધારાની ભૂલો આધારરેખા પસંદગી, બાજુની પ્રતિક્રિયાઓ અને ΔHtotal ના નિર્ધારણમાંથી ઉદ્દભવે છે. તેની પુનરાવર્તિતતા અનુકૂળ છે (<±2%).
3. FTIR પદ્ધતિ
તે રાસાયણિક બોન્ડ ઉત્ક્રાંતિનું સીધું અવલોકન કરે છે અને વાસ્તવિક રાસાયણિક રૂપાંતરણ સાથે ઉચ્ચતમ સુસંગતતા ધરાવે છે. મુખ્ય ભૂલો પીક ઓવરલેપ (દા.ત., Si-H સિગ્નલો પર પાણીની વરાળની દખલગીરી) થી થાય છે. ATR મોડ માત્ર સપાટીના સ્તરોને શોધી કાઢે છે; જો સપાટી અને આંતરિક ભાગ વચ્ચે ક્યોરિંગ એકરૂપતા અલગ હશે તો ટેસ્ટ ડેટા વિકૃત થશે. માપ લેમ્બર્ટ-બીયર કાયદાનું પાલન કરે છે અને અશુદ્ધ સંદર્ભ નમૂનાઓ પર આધાર રાખે છે. તે લગભગ ±1–3% ની ઉચ્ચ ચોકસાઇ દર્શાવે છે.
III. વ્યાપક ચોકસાઈ રેન્કિંગ
દ્વારા નક્કી કરવામાં આવે છે રાસાયણિક બોન્ડની વાસ્તવિક રૂપાંતર ડિગ્રી , ચોકસાઈનો ક્રમ છે: FTIR પદ્ધતિ > DSC પદ્ધતિ (ઓછી-થી-મધ્યમ રૂપાંતરણ શ્રેણી) > દ્રાવક નિષ્કર્ષણ પદ્ધતિ
દ્રાવક નિષ્કર્ષણ પદ્ધતિ સૌથી ઓછી ચોકસાઈ. ભૌતિક યોગદાનને કારણે પરીક્ષણ મૂલ્યો ઉન્નત થાય છે અને રાસાયણિક ક્રોસલિંકિંગ સ્થિતિ સાથે સૌથી ગરીબ સહસંબંધ દર્શાવે છે. તેમ છતાં, તેના પરિણામો ઔદ્યોગિક એપ્લિકેશન્સમાં વ્યવહારુ સેવા પ્રદર્શનની સૌથી નજીક છે.
DSC પદ્ધતિ નીચા-થી-મધ્યમ રૂપાંતરણ દરો હેઠળ વિશ્વસનીય અને સચોટ. તે પ્રસરણ-નિયંત્રિત પ્રદેશોમાં ખોટી રીતે ઉચ્ચ ક્યોરિંગ ડિગ્રી રીડિંગ્સ જનરેટ કરી શકે છે, તેથી તે ઉચ્ચ ઉપચાર સિસ્ટમોનું મૂલ્યાંકન કરવા માટે સ્વતંત્ર રીતે લાગુ કરવામાં આવશે નહીં.
FTIR પદ્ધતિ સર્વોચ્ચ ચોકસાઈ, રાસાયણિક રૂપાંતરણને બારીકાઈથી પારખવામાં સક્ષમ, ખાસ કરીને મધ્યમ-થી-ઉચ્ચ રૂપાંતરણ દરો હેઠળ તફાવત માટે યોગ્ય.
IV. પ્રાયોગિક એપ્લિકેશન ભલામણો
સોલવન્ટ એક્સ્ટ્રેક્શન પદ્ધતિ . જેલ સામગ્રી સેવા આવશ્યકતાઓને પૂર્ણ કરે છે કે કેમ તે ઝડપથી ચકાસવા માટે ગુણવત્તાની તપાસ માટે યોગ્ય તેના રીડિંગ્સને રાસાયણિક ક્રોસલિંક ઘનતા સાથે સીધી રીતે સરખાવી શકાય નહીં.
ડીએસસી પદ્ધતિ પ્રતિક્રિયા ગતિશાસ્ત્ર સંશોધન અને પ્રક્રિયા મોનીટરીંગ માટે લાગુ પડે છે. ઉચ્ચ રૂપાંતરણ તબક્કામાં માપન વિચલન પર ધ્યાન આપવું જોઈએ. FTIR પદ્ધતિ સાથે સંયુક્ત પરીક્ષણની ભલામણ કરવામાં આવે છે.
FTIR પદ્ધતિ પસંદગીની કેલિબ્રેશન પદ્ધતિ. જિયાંગસુ PTFE ઉચ્ચ-તાપમાન ફેબ્રિક ઉત્પાદકો દ્વારા R&D માટે તે ફોર્મ્યુલા ડેવલપમેન્ટ અને પ્રોસેસ ઑપ્ટિમાઇઝેશન માટે રાસાયણિક રૂપાંતરણ દર માટે સીધા માપદંડ સ્થાપિત કરી શકે છે. DSC પરીક્ષણ સાથે સંયોજિત, તે ક્યોરિંગ પ્રોગ્રેશન પર પૂરક માહિતી પ્રદાન કરે છે.
